探針臺是一種成熟的工具，用于測試硅晶片、裸片和開放式微芯片上的電路和設(shè)備。它允許用戶將電子、光學或射頻探針放置在設(shè)備上，然后測試該設(shè)備對外部刺激(電子、光學或射頻)的響應(yīng)。這些測試可以很簡單，例如連續(xù)性或隔離檢查，也可以更復雜，涉及復雜微電路的全功能測試。它的應(yīng)用行業(yè)有許多，常見的包括半導體、光電以及集成電路等行業(yè)，半導體企業(yè)不僅有效促進了經(jīng)濟發(fā)展。主要用于半導體材料、微納米器件、磁性材料、自旋電子器件及相關(guān)技術(shù)領(lǐng)域的電、磁學特性測試，能夠提供磁場或變溫環(huán)境，并進行高精度的直...

一、探針臺從操作上來區(qū)分有：手動，半自動，全自動二、從功能上來區(qū)分有：溫控探針臺，真空探針臺(超低溫探針臺)，RF探針臺，LCD平板探針臺，霍爾效應(yīng)探針臺，表面電阻率探針臺三、經(jīng)濟手動型：(1)根據(jù)客戶需求定制(2)chuck尺寸：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(3)X-Y移動行程：4"*4"6"*6"8"*8"12"*12"(可選)(4)chuckZ軸方向升降10mm(選項)方便探針與樣品快速分離(5)顯微鏡：金相顯微鏡、體式顯微鏡、單筒顯微鏡(可選)...

芯片分選機基于最新高新科技設(shè)計，可以提供高產(chǎn)出、高精準度的一站式IC測試解決方案，它適合Tray入料，卷帶（Reel）出料的進出料形式，可針對各種封裝形式的IC進行外觀檢測。該設(shè)備已經(jīng)取得了很大的技術(shù)進步，未來將在設(shè)備的每小時產(chǎn)能、適用的芯片封裝種類、換測時間以及系統(tǒng)的穩(wěn)定性等方面取得重要的成果。如今隨著經(jīng)濟的不斷發(fā)展，用工成本越來越高，尤其在產(chǎn)品分級方面，高昂的人工費用讓很多工廠企業(yè)越來越吃不消。自動化分級必將成為未來的大趨勢。反觀目前的重量分選機市場，魚龍混雜，不少有分級...

高低溫探針臺主要用于材料電學表征和測量的微型桌面型電學測量臺，是專為晶片、器件和材料（薄膜、納米、石墨烯、電子材料、超導材料、鐵電材料等）提供真空和高低溫測試條件下進行非破壞性的電學表征和測量平臺。主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學性能表征和測量，還可以在真空、氣氛環(huán)境下對材料進行電學測量評估，是實驗室測量薄膜材料電學材料常備工具，廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。性能優(yōu)勢：1、滿足各種溫度的需求：可以滿足非常高的溫度或非常低的溫度的需求，因為晶圓...

emmi微光顯微鏡是利用高增益相機/探測器來檢測由某些半導體器件缺陷/失效發(fā)出的微量光子的一種設(shè)備。當對樣品施加適當電壓時，其失效點會因加速載流子散射或電子-空穴對的復合而釋放特定波長的光子。這些光子經(jīng)過收集和圖像處理后，就可以得到一張信號圖。撤去對樣品施加的電壓后，再收集一張背景圖，把信號圖和背景圖疊加之后，就可以定位發(fā)光點的位置，從而實現(xiàn)對失效點的定位。對于故障分析而言，微光顯微鏡是一種相當有用且效率高的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHPRecom...

一、介紹：(1)波形發(fā)生器是一種數(shù)據(jù)信號發(fā)生器，在調(diào)試硬件時，常常需要加入一些信號，以觀察電路工作是否正常。用一般的信號發(fā)生器，不但笨重，而且只發(fā)一些簡單的波形，不能滿足需要。(2)例如用戶要調(diào)試串口通信程序時，就要在計算機上寫好一段程序，再用線連接計算機和用戶實驗板，如果不正常，不知道是通訊線有問題還是程序有問題。用E2000/L的波形發(fā)生器功能，就可以定義串口數(shù)據(jù)。通過邏輯探勾輸出，調(diào)試起來簡單快捷。二、設(shè)計原理：1.要求:產(chǎn)生頻率在1HZ--20KHZ幅度0--5V的方...

探針臺溫控是一款溫度范圍-190℃-600℃的溫控探針臺，通過杠桿式支架，使用的是彎針探針。使用時還可對樣品氣氛進行控制。這樣既可以保證，即使在極低溫度下，腔體也不產(chǎn)生結(jié)霜影響實驗，又可以防止樣品發(fā)生氧化。相比傳統(tǒng)的直針探針，這種設(shè)計不僅點針更準確，而且點針力度更大，和樣品的電接觸性更好。功能特點：1、可編程精密控溫。可獨立控制，也可從上位機軟件控制；2、探針需開蓋移動，樣品臺面電接地；3、探針，分別導通冷熱臺外殼上的4個BNC接口；4、杠桿式探針支架，點針力度更大，電接觸性...

MPI探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對芯片進行科研分析，抽查測試等用途。它主要的功能就是針對半導體元件進行檢測，這里面說的半導體元件指的是集成電路，分立器件，光電器件，傳感器等元件以及封裝的測試。通過探針臺配合測量儀器可完成集成電路的電壓，電流，電阻和電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。可以適用于對芯片進行科研分析，抽查檢測等；可以保證這些半導體元件的質(zhì)量，縮短研發(fā)時間和器件...