GP200包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專業(yè)的測(cè)試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。

GP200SE 8英寸高低溫探針臺(tái)包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置，能夠在最短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。提供專業(yè)的測(cè)試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。GP200SE擁有穩(wěn)定且可靠的測(cè)試平臺(tái)，保證測(cè)試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。

硅光探針臺(tái),GP200-SIP系列8英寸探針臺(tái)包含硅光芯片的DC&RF&OO測(cè)試所需的完整配置，在短時(shí)間內(nèi)可準(zhǔn)確地完成芯片的參數(shù)測(cè)試與提取。$nGP200擁有穩(wěn)定且可靠的測(cè)試平臺(tái)，保證測(cè)試中的扎針質(zhì)量。優(yōu)異的光學(xué)系統(tǒng)結(jié)合分辨率＜2μm的針座系統(tǒng)，確保扎針的穩(wěn)定性。

GP半自動(dòng)探針臺(tái)，GP2000-SE 高低溫探針臺(tái)。機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案。可應(yīng)用于I-V/C-V/P-IV測(cè)試、1/f噪聲測(cè)試、射頻/毫米波測(cè)試、功率測(cè)試、Load-Pull測(cè)試等。

大功率探針臺(tái),GP300探針臺(tái)讓您的芯片測(cè)試更加簡(jiǎn)單，機(jī)臺(tái)可輕松實(shí)現(xiàn)DC ~ THZ測(cè)量，提供芯片級(jí)I-V / C-V低噪聲測(cè)試系統(tǒng)方案。

進(jìn)口探針臺(tái),GP200探針臺(tái)包含DC~THZ測(cè)試所需的完整配置，能夠在短時(shí)間內(nèi)準(zhǔn)確地完成測(cè)試要求。 提供專業(yè)的測(cè)試方案，能夠?qū)崿F(xiàn)高品質(zhì)的I-V、C-V、RF 等測(cè)試。