HED-G5000全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備

Hanwa ESD HED-G5000 全自動(dòng)芯片ESD測(cè)試設(shè)備近年來(lái)，自動(dòng)駕駛技術(shù)逐漸成為Tier1汽車電子智能系統(tǒng)的超前優(yōu)良技術(shù)，解決自動(dòng)駕駛技術(shù)的關(guān)鍵在于提升自動(dòng)駕駛芯片的可靠性，保障汽車運(yùn)行中的安全。目前國(guó)內(nèi)尚未有關(guān)于汽車芯片可靠性的標(biāo)準(zhǔn)，而是基于國(guó)際AEC-Q100系列標(biāo)準(zhǔn)而進(jìn)行汽車芯片可靠性測(cè)試，其中一環(huán)節(jié)就是要對(duì)汽車芯片進(jìn)行CDM和HBM的靜電相關(guān)測(cè)試。