Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備 近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前優良技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運行中的安全。目前國內尚未有關于汽車芯片可靠性的標準，而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試，其中一環節就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關測試。

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目前，對于半導體器件的高集成度?高頻?高耐壓的需求逐年增加。對于在以往的TLP測試機無法完成的高電壓?大電流的特性測試，在TLP傳輸線脈沖測試儀上得以實現、并有助于高耐壓元件工作參數的取得及分析。

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ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5100D 全自動晶圓ESD測試機

emmi微光顯微鏡,ZEISS 光學微光顯微鏡產品特點：具有優化的操作理念。 擁有更高襯度和更高分辨率的新型光學系統。 基于“向前看”理念的升級設計。

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